GETec Microscopy GmbH
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Wien
Wien
ÖSTERREICH
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ÖSTERREICH
| Partnerkategorie | unternehmerisch tätig |
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Projektbeteiligungen
Als Koordinator
Visualizing nano-mechanics of two-dimensional membranes by in-situ Atomic Force Microscopy-Scanning Electron Microscopy
VISION entwickelt ein neuartiges Charakterisierungswerkzeug auf Basis eines kombinierten in-situ-Rasterkraftmikroskops (atomic force microscope, AFM)-Rasterelektronenmikroskops (scanning electron microscope, SEM), das die Fähigkeit hat, die lokale Verformung von atomar dünnen zweidimensionalen (2D)…
Als Partner
High-resolution, non-invasive magnetic sensing of multiferroic samples enabled by novel AFM-based characterization tools
Die „funktionalen“ Eigenschaften und das hervorragende Anwendungspotenzial von zukunftsträchtigen multiferroischen Materialien haben weltweite Forschung angestoßen, um diese neuartigen Materialien in Devices der nächsten Generation der Informationstechnologie (Spintronik und Low-Power Devices, usw.)…
Next generation heterointegration of ion-sliced lithium niobate nanofilms enabled by novel characterization tools
Das Projekt "H-iSlice" widmet sich der industriellen Forschung zur Heterointegration von monokristallinen LiNbO3 (LNO) Nanofilmen auf Siliziumsubstraten. Der Einfluss verschiedener Parameter des Produktionsprozesses auf die Zuverlässigkeit, Stabilität und Reproduzierbarkeit dieser LNO Nanofilme, sowie…
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